Moduł kamery HD OV5640 o rozdzielczości 5 megapikseli z interfejsem DVP dla mikrokontrolera ESP

  • 5-Megapixel HD OV5640 Camera Module with DVP Interface for ESP Microcontroller AI Development Board
  • 5-Megapixel HD OV5640 Camera Module with DVP Interface for ESP Microcontroller AI Development Board
  • 5-Megapixel HD OV5640 Camera Module with DVP Interface for ESP Microcontroller AI Development Board
  • 5-Megapixel HD OV5640 Camera Module with DVP Interface for ESP Microcontroller AI Development Board

Moduł kamery HD OV5640 o rozdzielczości 5 megapikseli z interfejsem DVP dla płytki rozwojowej AI mikrokontrolera ESP


Model:AS-BA048A65D102-18


Zastosowania: Nadzór, rozpoznawanie twarzy, inteligentny dom, rejestrator samochodowy, służby porządkowe itd.
Cechy: AF/FF opcjonalnie; Obsługa JPEG/YUV/ESP32/Lampa LED/Szerokokątny/IR-CUT/Mikrokontroler
Format:RAW
Spersonalizowane wsparcie: OEM, ODM
Sensor obrazu: OV5640
Wymiary modułów: 63x18mm (PCB)
HD: 5MP 2K 1080P
Interfejs: MIPI
Pixel: 5MP (2592x1944)
Liczba klatek na sekundę: 15-120fps
Rozmiar soczewki:1/4 cala
Kompatybilność z systemem: Windows Android Linux
Certyfikacja: RoHS


Moduł kamery HD OV5640 o rozdzielczości 5 megapikseli z interfejsem DVP dla mikrokontrolera ESP
Ten moduł kamery wykorzystuje technologie OmniVision Technologies i jest sensorem obrazu CMOS OV5640 o wysokiej rozdzielczości, wysokiej liczbie klatek na sekundę i niskim zużyciu energii. Może on rejestrować wyraźne i szczegółowe obrazy dla szerokiego zakresu scenariuszy zastosowań.
Moduł obsługuje także autofokus, autobalans bieli, stabilizację optyczną, światło uzupełniające oraz noktowizję na podczerwień, co poprawia jakość zdjęć.
Moduł kamery OV5640 jest szeroko stosowany w smartfonach, tabletach, aparatach cyfrowych, kamerach monitoringu, wizyjnej robotów, inspekcji przemysłowej i innych dziedzinach. Na przykład w smartfonach może być używany do robienia wysokiej jakości zdjęć i filmów; w systemach nadzoru może dostarczać wyraźne obrazy z monitoringu; a w inspekcji przemysłowej może być wykorzystywana do precyzyjnego pomiaru i wykrywania wad obiektów.